製品情報欠陥検査ランプ
欠陥検査ランプとは
欠陥検査ランプは、ワーク表面の極微細な傷に特殊フィルターをかけた光を当てることで、欠陥を浮かび上がらせ発見を容易にする製品です。
肉眼では発見できないサイズの線・点状欠陥や異物も視認できるようになる為、検査精度が大幅に向上します。
また、欠陥が光の反射で浮かび上がって見える特性から、より短時間での発見が可能となる為、作業性も大幅に向上します。
欠陥検査ランプの特徴・用途
特許取得によるフィルターにより今までは不可能だった微細な欠陥検出を可能としました。
基本的なスタンドタイプは各サイズ取り揃え、他にも用途に合った検査要望に応え、ハンディタイプ、狭小スペース用、並行表面用や生産工程での検査用のテーブルなど、様々な形状をご用意しております。
用途
- FPDガラス表面検査（TV, PC, スマートフォン、タブレット）
- 塗装面検査：車両
- 精密機器：光ファイバー、ハードディスク、感光ドラム、コピー機